Методы измерения и расчета параметров микроэлектронных компонентов

Под заказ
Производитель: STEM Instruments
Модель: Методы измерения, расчета параметров микроэлектронных компоненто
Наличие: Предзаказ

Быстрый заказ

Пожалуйста, укажите имя и свой номер телефона, чтобы мы могли связаться с Вами

captchacaptchacaptchacaptcha

Лабораторная установка «Методы измерения и расчета параметров микроэлектронных компонентов» предназначена для проведения лабораторных работ по курсам «Электроника», «Измерительная техника», «Системы автоматизированного тестирования», «Информационно-измерительные системы» и изучения основных характеристик электронных компонентов.
Лабораторная установка предоставляет широкие возможности по изучению принципов измерения основных характеристик широко применяемых компонентов и обеспечивает максимальное участие студента в проведении лабораторных исследований и измерений. Аппаратная часть основана на платформе NI PXI. Программное обеспечение разработано в графической среде программирования NI LabVIEW.

Состав лабораторного комплекса:

  • Платформа NI PXI
  • Учебно-лабораторный стенд
  • Лабораторное программное обеспечения
  • Руководство пользователя

Написать отзыв

Ваше Имя:


Ваш отзыв: Внимание: HTML не поддерживается! Используйте обычный текст.

Оценка: Плохо           Хорошо

Введите код, указанный на картинке:




 

Быстрый заказ
Пожалуйста, укажите имя и свой номер телефона, чтобы мы могли связаться с Вами

captchacaptchacaptchacaptcha